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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization 1-gen-2006 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage 1-gen-2005 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Chemical characterization of Taq DNA polymerase adsorption on different surfaces 1-gen-2007 Canteri, Roberto; Dell'Anna, Rossana; Forti, Stefania; Lunelli, Lorenzo; Pasquardini, Laura; Pederzolli, Cecilia; Potrich, Cristina; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Diego, Vozzi; Cristina, Zadro; Paolo, Gasparini
Columnar nano-void formation on Germanium under Sn+ ion implantation: Ge1-xSnx walls 1-gen-2014 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo
Deposition of Organic Thin Films on Inorganic Nanostructured Substrates by SuMBD: A Multivariate Statistical Analysis of Surface Characterization Measurements to Investigate the Interaction at the Interface 1-gen-2014 Dell'Anna, Rossana; Canteri, Roberto; N., Coppedè; Vanzetti, Lia Emanuela; E., Cazzanelli; S., Iannotta; Bersani, Massimo
Effect of Nanodiamond Particles Incorporation in Hydroxyapatite Coatings 1-gen-2009 Emilia, Pecheva; Lilyana, Pramatarova; Attila, Toth; Todor, Hikov; Dimitrinka, Fingarova; Stavri, Stavrev; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses 1-gen-2003 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM 1-gen-2007 Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory. The case study of MiNALab. 1-gen-2013 Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, Salvatore; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, Mauro; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 18
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Autore
  • Bersani, Massimo 12
  • Iacob, Erica 12
  • Barozzi, Mario 10
  • Anderle, Mariano 9
  • Giubertoni, Damiano 8
  • Canteri, Roberto 4
  • Dell'Anna, Rossana 3
  • Forti, Stefania 3
  • Lunelli, Lorenzo 3
  • Pasquardini, Laura 3
Data di pubblicazione
  • 2010 - 2014 4
  • 2001 - 2009 14
Editore
  • A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
  • SIMS 2
  • accreditation 1
  • asbestos 1
  • BIOSUPERFICI 1
  • ISO/IEC 17025 1
  • PECVD 1
  • RTA 1
  • SEM 1
  • SRO multi-layers 1
  • text methods 1
Lingua
  • eng 17
Accesso al fulltext
  • no fulltext 18