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Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling
2005-01-01 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
An experimental/ab-initio study on carbon nanotubes fibers for application in high-performing sporting goods.
2013-01-01 Maria F., Pantano; Vesselin, Shanov; Mark J., Schulz; Fedrizzi, Michele; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Taioli, Simone; Silvio A., Beccara; Pugno, Nicola
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization
2006-01-01 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage
2005-01-01 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces
2011-01-01 Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy
2014-01-01 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Effect of Nanodiamond Particles Incorporation in Hydroxyapatite Coatings
2009-01-01 Emilia, Pecheva; Lilyana, Pramatarova; Attila, Toth; Todor, Hikov; Dimitrinka, Fingarova; Stavri, Stavrev; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses
2003-01-01 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
MCs+ and MCs2+ Molecular Ions Emission from Transition Metal Silicides
2001-01-01 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM
2007-01-01 Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling | 1-gen-2005 | Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo | |
An experimental/ab-initio study on carbon nanotubes fibers for application in high-performing sporting goods. | 1-gen-2013 | Maria F., Pantano; Vesselin, Shanov; Mark J., Schulz; Fedrizzi, Michele; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Taioli, Simone; Silvio A., Beccara; Pugno, Nicola | |
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization | 1-gen-2006 | Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis | |
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage | 1-gen-2005 | Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces | 1-gen-2011 | Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo | |
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy | 1-gen-2014 | Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo | |
Effect of Nanodiamond Particles Incorporation in Hydroxyapatite Coatings | 1-gen-2009 | Emilia, Pecheva; Lilyana, Pramatarova; Attila, Toth; Todor, Hikov; Dimitrinka, Fingarova; Stavri, Stavrev; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela | |
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses | 1-gen-2003 | Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano | |
MCs+ and MCs2+ Molecular Ions Emission from Transition Metal Silicides | 1-gen-2001 | Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Anderle, Mariano | |
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM | 1-gen-2007 | Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi |
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Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 29
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 29
Data di pubblicazione
- 2010 - 2014 10
- 2001 - 2009 19
Editore
- A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
- SIMS 5
- accreditation 2
- AFM 2
- asbestos 2
- ISO/IEC 17025 2
- SEM 2
- XPS 2
- ALD 1
- dilute nitrides 1
- GaAsN 1
Lingua
- eng 28
Accesso al fulltext
- no fulltext 29