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Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling
2005-01-01 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization
2006-01-01 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage
2005-01-01 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces
2011-01-01 Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses
2003-01-01 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
MCs+ and MCs2+ Molecular Ions Emission from Transition Metal Silicides
2001-01-01 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM
2007-01-01 Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques
2002-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory. The case study of MiNALab.
2013-01-01 Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, Salvatore; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, Mauro; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo
Rotating stage and shallow depth profiling on Cameca SC-Ultra apparatus
2004-01-01 S., Pederzoli; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling | 1-gen-2005 | Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo | |
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization | 1-gen-2006 | Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis | |
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage | 1-gen-2005 | Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces | 1-gen-2011 | Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo | |
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses | 1-gen-2003 | Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano | |
MCs+ and MCs2+ Molecular Ions Emission from Transition Metal Silicides | 1-gen-2001 | Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Anderle, Mariano | |
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM | 1-gen-2007 | Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi | |
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques | 1-gen-2002 | Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali | |
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory. The case study of MiNALab. | 1-gen-2013 | Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, Salvatore; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, Mauro; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo | |
Rotating stage and shallow depth profiling on Cameca SC-Ultra apparatus | 1-gen-2004 | S., Pederzoli; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo |
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Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 20
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 20
Data di pubblicazione
- 2010 - 2013 6
- 2001 - 2009 14
Editore
- A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
- SIMS 4
- AFM 2
- accreditation 1
- ALD 1
- asbestos 1
- ISO 1
- ISO/IEC 17025 1
- PECVD 1
- ripples 1
- RSF 1
Lingua
- eng 20
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