Quarta, Gabriele

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Displacement damage in Hydrogenated Amorphous Silicon p-in diodes and charge selective contacts detectors. 1-gen-2022 Menichelli, M.; Bizzarri, M.; Boscardin, M.; Calcagnile, L.; Caprai, M.; Caricato, A. P.; Cirrone, G. A. P.; Crivellari, M.; Cupparo, I.; Cuttone, G.; Dunand, S.; Fanò, L.; Gianfelici, B.; Hammad Ali, O.; Ionica, M.; Kanxheri, K.; Large, M.; Maruccio, G.; Monteduro, A. G.; Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Papi, A.; Passeri, D.; Pedio, M.; Petasecca, M.; Petringa, G.; Peverini, F.; Quarta, G.; Rizzato, S.; Rossi, A.; Rossi, G.; Scorzoni, A.; Servoli, L.; Talamonti, C.; Verzellesi, G.; Wyrsch, N.
Neutron irradiation of Hydrogenated Amorphous Silicon p-i-n diodes and charge selective contacts detectors 1-gen-2023 Menichelli, M.; Bizzarri, M.; Boscardin, M.; Calcagnile, L.; Caprai, M.; Caricato, A. P.; Cirrone, G. A. P.; Crivellari, M.; Cupparo, I.; Cuttone, G.; Dunand, S.; Fanò, L.; Gianfelici, B.; Hammad, O.; Ionica, M.; Kanxheri, K.; Large, M.; Maruccio, G.; Monteduro, A. G.; Moscatelli, F.; Morozzi, A.; Papi, A.; Passeri, D.; Pedio, M.; Petasecca, M.; Petringa, G.; Peverini, F.; Quarta, G.; Rizzato, S.; Rossi, A.; Rossi, G.; Scorzoni, A.; Servoli, L.; Talamonti, C.; Verzellesi, G.; Wyrsch, N.
Testing of planar hydrogenated amorphous silicon sensors with charge selective contacts for the construction of 3D-detectors 1-gen-2022 Menichelli, M.; Bizzarri, M.; Boscardin, M.; Caprai, M.; Caricato, A. P.; Cirrone, G. A. P.; Crivellari, M.; Cupparo, I.; Cuttone, G.; Dunand, S.; Fanò, L.; Hammad Ali, O.; Ionica, M.; Kanxheri, K.; Large, M.; Maruccio, G.; Monteduro, A. G.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Papi, A.; Passeri, D.; Petasecca, M.; Petringa, G.; Quarta, G.; Rizzato, S.; Rossi, A.; Rossi, G.; Scorzoni, A.; Servoli, L.; Talamonti, C.; Verzellesi, G.; Wyrsch, N.