Sfoglia per Titolo
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+ activated silica-hafnia waweguides
2007-01-01 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; Chiasera, Alessandro
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Er3+ -Activated Silica-Hafnia Waveguides
2006-01-01 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Jestin, Yoann; Ferrari, Maurizio
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+-activated SiO2–HfO2 glass-ceramic waveguides
2009-01-01 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Micheli, Victor; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Nitrided Silicon-Silicon Oxide Interface
2002-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
X-ray photoelectron spectroscopy of SiO2-HfO2 amorphous and glass-ceramic waveguides: a comparative study
2009-01-01 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Torrengo, Simona; G., Alombert Goget; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; G. C., Righini
X-ray photoemission study of Pr3+ in zinc borate glasses
1999-01-01 Speranza, Giorgio; Mariano, Ferrari; M., Bettinelli
X-ray reflectivity study of the early stages of a-C:H film growth
2005-01-01 Calliari, Lucia; Baranov, Alexandr; S. S., Franchenko; A., Nefedov; A., Varfolomeev
X-Ray Silicon Drift Detector – CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature
2016-01-01 Bertuccio, G.; Ahangarianabhari, M.; Graziani, C.; Macera, D.; Shi, Y.; Gandola, M.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Bellutti, Pierluigi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola
X-ray spectroscopic performance of a matrix of silicon drift diodes
2013-01-01 A., Rachevski; G., Zampa; N., Zampa; Rachevskaia, Irina; A., Vacchi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; A., Cicuttin; M. L., Crespo; C., Tuniz
X-ray studies on optical and structural properties of ZnO nanostructured thin films
2006-01-01 S., Larcheri; C., Armellini; Rocca, Francesco; A., Kuzmin; R., Kalendarev; G., Dalba; R., Graziola; J., Purans; D., Pailharey; F., Jandard
X-ray visualization of polymer-based implants with osseointegrating coatings
2013-01-01 Tessarolo, Francesco; Miori, G.; Pace, N.; Zappini, G.; Nollo, Giandomenico; Recla, M.; Valentini, A.
The X/Gamma-ray Imaging Spectrometer (XGIS) on-board THESEUS: design, main characteristics, and concept of operation
2020-01-01 Labanti, Claudio; Amati, Lorenzo; Frontera, Filippo; Mereghetti, Sandro; Gasent-Blesa, José Luis; Tenzer, Christoph; Orleanski, Piotr; Kuvvetli, Irfan; Campana, Riccardo; Fuschino, Fabio; Terenzi, Luca; Virgilli, Enrico; Morgante, Gianluca; Orlandini, Mauro; Butler, Reginald C.; Stephen, John B.; Auricchio, Natalia; De Rosa, Adriano; Da Ronco, Vanni; Evangelisti, Federico; Melchiorri, Michele; Squerzanti, Stefano; Fiorini, Mauro; Bertuccio, Giuseppe; Mele, Filippo; Gandola, Massimo; Malcovati, Piero; Grassi, Marco; Bellutti, Pierluigi; Borghi, Giacomo; Ficorella, Francesco; Picciotto, Antonino; Zanini, Vittorio; Zorzi, Nicola; Demenev, Evgeny; Rashevskaya, Irina; Rachevski, Alexander; Zampa, Gianluigi; Vacchi, Andrea; Zampa, Nicola; Baldazzi, Giuseppe; La Rosa, Giovanni; Sottile, Giuseppe; Volpe, Angela; Winkler, Marek; Reglero, Victor; Connell, Paul H.; Pinazo-Herrero, Benjamin; Navarro-González, Javier; Rodríguez-Martínez, Pedro; Castro-Tirado, Alberto J.; Santangelo, Andrea; Hedderman, Paul; Lorenzi, Paolo; Sarra, Paolo; Pedersen, Søren M.; Tcherniak, Denis; Guidorzi, Cristiano; Rosati, Piero; Trois, Alessio; Piazzolla, Raffaele
The XAFS fluorescence detector system based on 64 silicon drift detectors for the SESAME synchrotron light source
2019-01-01 Rachevski, A.; Ahangarianabhari, M.; Aquilanti, G.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Bufon, J.; Cautero, G.; Ciano, S.; Cicuttin, A.; Cirrincione, D.; Crespo, M. L.; Fabiani, S.; Ficorella, F.; Gandola, M.; Giuressi, D.; Mannatunga, K. S.; Mele, F.; Menk, R. H.; Olivi, L.; Orzan, G.; Picciotto, A.; Rashevskaya, I.; Sammartini, M.; Schillani, S.; Zampa, G.; Zampa, N.; Zorzi, N.; Vacchi, A.
Xafs Spectroscopy and Glass Structure
2015-01-01 Dalba, Giuseppe; Rocca, Francesco
XAFS study of Ni surroundings in metal induced crystallization of thin film amorphous silicon
2008-01-01 R., Grisenti; G., Dalba; P., Fornasini; Rocca, Francesco; U. M. K., Koppolu; M. G., Krishna
XAFS study on the local order of Pb in PbO borate glasses
2006-01-01 G., Dalba; P., Fornasini; R., Grisenti; Rocca, Francesco; N., Afify; M., Affatigato
XANES and EXAFS modelling of configurational disorder in silver borate glasses
2005-01-01 G., Dalba; P., Fornasini; A., Kuzmin; F., Monti; A., Sanson; O., Sipr; Rocca, Francesco
XAS STUDIES OF CU(II) AND ZN(II) BINDING SITE IN AMYLOID PEPTIDES
2010-01-01 Potrich, Cristina; Dalla Serra, Mauro; W., Meyer Klaucke; S., Morante
xDUCON: Coordinating Usage Control Policies in Distributed Domains
2009-01-01 Russello, Giovanni; Dulay, N.
xDUCON: Cross Domain Usage Control through Shared Data Spaces
2009-01-01 Russello, Giovanni; Dulay, N.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+ activated silica-hafnia waweguides | 1-gen-2007 | Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; Chiasera, Alessandro | |
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Er3+ -Activated Silica-Hafnia Waveguides | 1-gen-2006 | Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Jestin, Yoann; Ferrari, Maurizio | |
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+-activated SiO2–HfO2 glass-ceramic waveguides | 1-gen-2009 | Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Micheli, Victor; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann | |
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Nitrided Silicon-Silicon Oxide Interface | 1-gen-2002 | Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano | |
X-ray photoelectron spectroscopy of SiO2-HfO2 amorphous and glass-ceramic waveguides: a comparative study | 1-gen-2009 | Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Torrengo, Simona; G., Alombert Goget; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; G. C., Righini | |
X-ray photoemission study of Pr3+ in zinc borate glasses | 1-gen-1999 | Speranza, Giorgio; Mariano, Ferrari; M., Bettinelli | |
X-ray reflectivity study of the early stages of a-C:H film growth | 1-gen-2005 | Calliari, Lucia; Baranov, Alexandr; S. S., Franchenko; A., Nefedov; A., Varfolomeev | |
X-Ray Silicon Drift Detector – CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature | 1-gen-2016 | Bertuccio, G.; Ahangarianabhari, M.; Graziani, C.; Macera, D.; Shi, Y.; Gandola, M.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Bellutti, Pierluigi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola | |
X-ray spectroscopic performance of a matrix of silicon drift diodes | 1-gen-2013 | A., Rachevski; G., Zampa; N., Zampa; Rachevskaia, Irina; A., Vacchi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; A., Cicuttin; M. L., Crespo; C., Tuniz | |
X-ray studies on optical and structural properties of ZnO nanostructured thin films | 1-gen-2006 | S., Larcheri; C., Armellini; Rocca, Francesco; A., Kuzmin; R., Kalendarev; G., Dalba; R., Graziola; J., Purans; D., Pailharey; F., Jandard | |
X-ray visualization of polymer-based implants with osseointegrating coatings | 1-gen-2013 | Tessarolo, Francesco; Miori, G.; Pace, N.; Zappini, G.; Nollo, Giandomenico; Recla, M.; Valentini, A. | |
The X/Gamma-ray Imaging Spectrometer (XGIS) on-board THESEUS: design, main characteristics, and concept of operation | 1-gen-2020 | Labanti, Claudio; Amati, Lorenzo; Frontera, Filippo; Mereghetti, Sandro; Gasent-Blesa, José Luis; Tenzer, Christoph; Orleanski, Piotr; Kuvvetli, Irfan; Campana, Riccardo; Fuschino, Fabio; Terenzi, Luca; Virgilli, Enrico; Morgante, Gianluca; Orlandini, Mauro; Butler, Reginald C.; Stephen, John B.; Auricchio, Natalia; De Rosa, Adriano; Da Ronco, Vanni; Evangelisti, Federico; Melchiorri, Michele; Squerzanti, Stefano; Fiorini, Mauro; Bertuccio, Giuseppe; Mele, Filippo; Gandola, Massimo; Malcovati, Piero; Grassi, Marco; Bellutti, Pierluigi; Borghi, Giacomo; Ficorella, Francesco; Picciotto, Antonino; Zanini, Vittorio; Zorzi, Nicola; Demenev, Evgeny; Rashevskaya, Irina; Rachevski, Alexander; Zampa, Gianluigi; Vacchi, Andrea; Zampa, Nicola; Baldazzi, Giuseppe; La Rosa, Giovanni; Sottile, Giuseppe; Volpe, Angela; Winkler, Marek; Reglero, Victor; Connell, Paul H.; Pinazo-Herrero, Benjamin; Navarro-González, Javier; Rodríguez-Martínez, Pedro; Castro-Tirado, Alberto J.; Santangelo, Andrea; Hedderman, Paul; Lorenzi, Paolo; Sarra, Paolo; Pedersen, Søren M.; Tcherniak, Denis; Guidorzi, Cristiano; Rosati, Piero; Trois, Alessio; Piazzolla, Raffaele | |
The XAFS fluorescence detector system based on 64 silicon drift detectors for the SESAME synchrotron light source | 1-gen-2019 | Rachevski, A.; Ahangarianabhari, M.; Aquilanti, G.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Bufon, J.; Cautero, G.; Ciano, S.; Cicuttin, A.; Cirrincione, D.; Crespo, M. L.; Fabiani, S.; Ficorella, F.; Gandola, M.; Giuressi, D.; Mannatunga, K. S.; Mele, F.; Menk, R. H.; Olivi, L.; Orzan, G.; Picciotto, A.; Rashevskaya, I.; Sammartini, M.; Schillani, S.; Zampa, G.; Zampa, N.; Zorzi, N.; Vacchi, A. | |
Xafs Spectroscopy and Glass Structure | 1-gen-2015 | Dalba, Giuseppe; Rocca, Francesco | |
XAFS study of Ni surroundings in metal induced crystallization of thin film amorphous silicon | 1-gen-2008 | R., Grisenti; G., Dalba; P., Fornasini; Rocca, Francesco; U. M. K., Koppolu; M. G., Krishna | |
XAFS study on the local order of Pb in PbO borate glasses | 1-gen-2006 | G., Dalba; P., Fornasini; R., Grisenti; Rocca, Francesco; N., Afify; M., Affatigato | |
XANES and EXAFS modelling of configurational disorder in silver borate glasses | 1-gen-2005 | G., Dalba; P., Fornasini; A., Kuzmin; F., Monti; A., Sanson; O., Sipr; Rocca, Francesco | |
XAS STUDIES OF CU(II) AND ZN(II) BINDING SITE IN AMYLOID PEPTIDES | 1-gen-2010 | Potrich, Cristina; Dalla Serra, Mauro; W., Meyer Klaucke; S., Morante | |
xDUCON: Coordinating Usage Control Policies in Distributed Domains | 1-gen-2009 | Russello, Giovanni; Dulay, N. | |
xDUCON: Cross Domain Usage Control through Shared Data Spaces | 1-gen-2009 | Russello, Giovanni; Dulay, N. |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile