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Negative bias-induced threshold voltage instability in GaN-on-Si power HEMTs
2016-01-01 Meneghini, M.; Rossetto, I.; Bisi, D.; Ruzzarin, M.; Van Hove, M.; Stoffels, S.; Wu, T. -L.; Marcon, D.; Decoutere, S.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
RF-MEMS Technology for 5G: Series and Shunt Attenuator Modules Demonstrated up to 110 GHz
2016-01-01 Iannacci, Jacopo; Huhn, M.; Tschoban, C.; Potter, H.
RF-MEMS Technology for Future (5G) Mobile and High-Frequency Applications: Reconfigurable 8-Bit Power Attenuator Tested up to 110 GHz
2016-01-01 Iannacci, Jacopo; Huhn, M.; Tschoban, C.; Potter, H.
Trench-Isolated Low Gain Avalanche Diodes (TI-LGADs)
2020-01-01 Paternoster, G.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Ferrero, M.; Ficorella, F.; Siviero, F.; Gola, A.; Bellutti, P.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Negative bias-induced threshold voltage instability in GaN-on-Si power HEMTs | 1-gen-2016 | Meneghini, M.; Rossetto, I.; Bisi, D.; Ruzzarin, M.; Van Hove, M.; Stoffels, S.; Wu, T. -L.; Marcon, D.; Decoutere, S.; Meneghesso, G.; Zanoni, E. | |
RF-MEMS Technology for 5G: Series and Shunt Attenuator Modules Demonstrated up to 110 GHz | 1-gen-2016 | Iannacci, Jacopo; Huhn, M.; Tschoban, C.; Potter, H. | |
RF-MEMS Technology for Future (5G) Mobile and High-Frequency Applications: Reconfigurable 8-Bit Power Attenuator Tested up to 110 GHz | 1-gen-2016 | Iannacci, Jacopo; Huhn, M.; Tschoban, C.; Potter, H. | |
Trench-Isolated Low Gain Avalanche Diodes (TI-LGADs) | 1-gen-2020 | Paternoster, G.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Ferrero, M.; Ficorella, F.; Siviero, F.; Gola, A.; Bellutti, P. |
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