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Seeman-Bohlin x-ray diffraction study of Al-1%Si thin films used in ULSI devices
1992-01-01 Dapor, Maurizio; Cicolini, Guido; Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio; G., Queirolo
Study on the elastic-plastic behavior of a porous hierarchical bioscaffold used for bone regeneration
2013-01-01 S., Huang; Z., Li; Z., Chen; Q., Chen; Pugno, Nicola
X-ray diffraction study of P-doped polycrystalline Si thin films used in ULSI devices
1992-01-01 Diego, Bisero; Dapor, Maurizio; Margesin, Benno
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Seeman-Bohlin x-ray diffraction study of Al-1%Si thin films used in ULSI devices | 1-gen-1992 | Dapor, Maurizio; Cicolini, Guido; Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio; G., Queirolo | |
| Study on the elastic-plastic behavior of a porous hierarchical bioscaffold used for bone regeneration | 1-gen-2013 | S., Huang; Z., Li; Z., Chen; Q., Chen; Pugno, Nicola | |
| X-ray diffraction study of P-doped polycrystalline Si thin films used in ULSI devices | 1-gen-1992 | Diego, Bisero; Dapor, Maurizio; Margesin, Benno |
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