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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Data analysis in combinatorial experiments: applying supervised principal component technique to investigate the relationship between ToF-SIMS spectra and the composition distribution of ternary metallic alloy thin films | 1-gen-2008 | Dell'Anna, Rossana; Paolo, Lazzeri; Canteri, Roberto; Christian, Long; Jason Hattrick, Simpers; Ichiro, Takeuchi; Mariano, Anderle |
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