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Quantitative depth profiling of boron and arsenic ultra low energy implants by pulsed rf-GD-ToFMS
2011-01-01 Lara, Lobo; Beatriz, Fernandez; Rosario, Pereiro; Nerea, Bordel; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Philipp, Hoenicke; Burkhard, Beckhoff; A., Sanz Medel
Synchrotron radiation induced TXRF- a critical review
2008-01-01 Christina, Streli; Peter, Wobrauschek; Meirer, Florian; Pepponi, Giancarlo
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Quantitative depth profiling of boron and arsenic ultra low energy implants by pulsed rf-GD-ToFMS | 1-gen-2011 | Lara, Lobo; Beatriz, Fernandez; Rosario, Pereiro; Nerea, Bordel; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Philipp, Hoenicke; Burkhard, Beckhoff; A., Sanz Medel | |
Synchrotron radiation induced TXRF- a critical review | 1-gen-2008 | Christina, Streli; Peter, Wobrauschek; Meirer, Florian; Pepponi, Giancarlo |
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