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On the improving of the gate oxide reliability 1-gen-1996 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Interstitial oxygen concentration role in the DW-Locos CMOS technology 1-gen-1996 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; D., Vrtacnik; M., Calderara; Soncini, Giovanni
MOS C-t characteristics and gate oxide quality versus bulk iron contamination in epitaxial wafers 1-gen-1997 Bellutti, Pierluigi; Collini, Amos; Zorzi, Nicola; G., Vaccari; D., Crippa
Gate Oxide Quality Improvement Nearby Bird`s Beak Region 1-gen-1997 Bellutti, Pierluigi; Collini, Amos; Ferrario, Lorenza; Zorzi, Nicola; Zen, Mario
Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime 1-gen-1997 M., Conti; Dalla Betta, Gian Franco; S., Orcioni; Soncini, Giovanni; C., Turchetti; Zorzi, Nicola
First results on double-sided AC-coupled Si strip detectors 1-gen-1998 Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; N., Carmel Barnea; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Giorgio Umberto, Pignatel; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Design and optimisation of an npn silicon bipolar phototransistor for optical position encoders 1-gen-1998 Dalla Betta, Gian Franco; Giorgio Umberto, Pignatel; G., Verzellesi; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Zorzi, Nicola; Maglione, Alfredo
Impact of High-Temperature Dry Local Oxidation on Gate Oxide Quality 1-gen-1998 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola
Feasibility study for double-sided silicon microstrip detector fabrication at IRST 1-gen-1999 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; N., Carmel Barnea; Ferrario, Lorenza; Giorgio Umberto, Pignatel; Rachevskaia, Irina; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
On the better quality of wet-grown gate oxides 1-gen-1999 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola
Gate Oxide Reliability Improvement related to Dry Local Oxidation of Silicon 1-gen-1999 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola; G., Verzellesi
The Effect of Stress Polarity on Positive Charging in Thin Gate Oxides 1-gen-1999 Bellutti, Pierluigi; L., Eccel; Zorzi, Nicola
An all-implanted p-channel Si JFET fully compatible with CMOS technology 1-gen-1999 Dalla Betta, Gian Franco; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Soncini, Giovanni; Zorzi, Nicola
The effect of stress polarity on positive charging in thin gate oxide 1-gen-2000 Bellutti, Pierluigi; L., Eccel; Zorzi, Nicola
Fowler Nordheim induced light emission from MOS diodes 1-gen-2000 Bellutti, Pierluigi; Dalla Betta, Gian Franco; Zorzi, Nicola; R., Versari; A., Pieracci; B., Riccò; M., Manfredi; Soncini, Giovanni
Sensore di colore a tripla giunzione in tecnologia CMOS standard 1-gen-2000 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; Zorzi, Nicola; Soncini, Giovanni
Surface and Bulk Properties of Oxygenated FZ Silicon Wafers for Particle Detector Applications 1-gen-2000 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Gregori, Paolo; Zorzi, Nicola
An `all-p-type` termination structure for silicon microstrip detectors 1-gen-2001 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; S., Dittongo; Gregori, Paolo; Rachevskaia, Irina; G., Verzellesi; Zorzi, Nicola
Development of a fabrication technology for double-sided AC-coupled silicon microstrip detectors 1-gen-2001 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Rachevskaia, Irina; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
High Electric Field induced positive charges in thin gate oxide 1-gen-2001 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola
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