Sfoglia per Autore
Interactions between lead oxide and ceramic substrates for thick film technology
1997-01-01 Bersani, Massimo; Morten, Bruno; Prudenziati, Maria; Gualtieri, Alessandro
Characterisation of RTA Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses
1998-01-01 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Luminescence from Erbium-Doped Silicon Epi Layers Grown by Liquid-Phase Epitaxy
1998-01-01 S., Pizzini; M., Donghi; S., Binetti; G., Wagner; Bersani, Massimo
Surface Analysis Studies of Bidri Archaeomaterials from the Collection of the British Museum
1998-01-01 E., Paparazzo; L., Moretto; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; Anderle, Mariano
A comparison between mass spectrometry techniques on oxynitrides
1998-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Quantitative SIMS Depth Distribution of Nitrogen in Nitrided Oxide at the SiO2/Si Interface
1998-01-01 Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; G., Ferroni; C., Savoia; Anderle, Mariano
Surface analytical techniques for last generation ULSI microelectronic materials and processing
1998-01-01 Bersani, Massimo
Dopant Redistribution Analysis in RiSi2/Si Systems by SIMS
1998-01-01 M., Sbetti; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; S. a., Beccara; Anderle, Mariano
Technical report ITC-irst/SGS-Thomsn
1998-01-01 M., Sbetti; Bersani, Massimo
Characterization of RTP Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses
1998-01-01 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
ULSI Technology and Materials: Quantitative Answers by Combined Mass Spectrometry Surface Techniques
1998-01-01 Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri
1998-01-01 M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Interactions between bismuth oxide and ceramic substrates for thick film technology
1998-01-01 S., Imovilli; B., Morten; M., Prudenziati; A., Gualtieri; Bersani, Massimo
Which Colour?
1999-01-01 Bersani, Massimo; Canteri, Roberto; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Characterization of rapid Thermal Processing Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses
1999-01-01 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione
2000-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Deph profiling and quantification of chlorine and nitrogen in oxynitrides obtained by HTO process
2000-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica
ToF-SIMS quantification of trace metal contaminants on silicon wafer: RSF's evaluation and characterization of wet cleaning processes
2000-01-01 Lazzeri, Paolo; M. L., Polignano; L., Moro; D., Caputo; D., Lodi; Bersani, Massimo
Oxidation of PIII (Plasma Immersion Ion Implanted)-doped Silicon: study of Arsenic redistribution by SIMS and XPS
2000-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; V., Soncini
Characterisation of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces
2000-01-01 M. L., Polignano; M., Alessandri; D., Brazzeli; B., Crivelli; G., Ghidini; R., Zonca; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; C. G., Xing; G. E., Miner; N., Astici; S., Kupparo; D., Lopes
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Interactions between lead oxide and ceramic substrates for thick film technology | 1-gen-1997 | Bersani, Massimo; Morten, Bruno; Prudenziati, Maria; Gualtieri, Alessandro | |
Characterisation of RTA Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
Luminescence from Erbium-Doped Silicon Epi Layers Grown by Liquid-Phase Epitaxy | 1-gen-1998 | S., Pizzini; M., Donghi; S., Binetti; G., Wagner; Bersani, Massimo | |
Surface Analysis Studies of Bidri Archaeomaterials from the Collection of the British Museum | 1-gen-1998 | E., Paparazzo; L., Moretto; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; Anderle, Mariano | |
A comparison between mass spectrometry techniques on oxynitrides | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
Quantitative SIMS Depth Distribution of Nitrogen in Nitrided Oxide at the SiO2/Si Interface | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; G., Ferroni; C., Savoia; Anderle, Mariano | |
Surface analytical techniques for last generation ULSI microelectronic materials and processing | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo | |
Dopant Redistribution Analysis in RiSi2/Si Systems by SIMS | 1-gen-1998 | M., Sbetti; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; S. a., Beccara; Anderle, Mariano | |
Technical report ITC-irst/SGS-Thomsn | 1-gen-1998 | M., Sbetti; Bersani, Massimo | |
Characterization of RTP Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
ULSI Technology and Materials: Quantitative Answers by Combined Mass Spectrometry Surface Techniques | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri | 1-gen-1998 | M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano | |
Interactions between bismuth oxide and ceramic substrates for thick film technology | 1-gen-1998 | S., Imovilli; B., Morten; M., Prudenziati; A., Gualtieri; Bersani, Massimo | |
Which Colour? | 1-gen-1999 | Bersani, Massimo; Canteri, Roberto; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano | |
Characterization of rapid Thermal Processing Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses | 1-gen-1999 | Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione | 1-gen-2000 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano | |
Deph profiling and quantification of chlorine and nitrogen in oxynitrides obtained by HTO process | 1-gen-2000 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica | |
ToF-SIMS quantification of trace metal contaminants on silicon wafer: RSF's evaluation and characterization of wet cleaning processes | 1-gen-2000 | Lazzeri, Paolo; M. L., Polignano; L., Moro; D., Caputo; D., Lodi; Bersani, Massimo | |
Oxidation of PIII (Plasma Immersion Ion Implanted)-doped Silicon: study of Arsenic redistribution by SIMS and XPS | 1-gen-2000 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; V., Soncini | |
Characterisation of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces | 1-gen-2000 | M. L., Polignano; M., Alessandri; D., Brazzeli; B., Crivelli; G., Ghidini; R., Zonca; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; C. G., Xing; G. E., Miner; N., Astici; S., Kupparo; D., Lopes |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile