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Rivelazione di contaminanti metallici su silicio tramite laser-SNMS 1-gen-1999 Lazzeri, Paolo; L., Moro; K. J., Wu
Influence of crucible material and source alloy composition on thermally evaporated indium tin oxide layers 1-gen-1999 H. R., Kerp; M. W., Van Cleef; A. B., Wit; R. E. I., Shropp; R., Galloni; Lazzeri, Paolo
Application of 118-nm postionization mass spectrometry to the detection of organic compounds on silicon surface 1-gen-1999 L., Moro; Lazzeri, Paolo
Characterization of trace metal contaminants on Si by laser-SNMS 1-gen-1999 L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu
Advances in Trace Metal Contaminant Analysis by Laser-SNMS 1-gen-1999 L., Moro; Lazzeri, Paolo; Wu K., Jen
The use of spin coated txrf reference samples for TOF-SIMS metal contaminants quantification on silicon wafers 1-gen-2000 Paolo Lazzeri; Alberto Lui; L. Moro; Lia Emanuela Vanzetti
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
ToF-SIMS quantification of trace metal contaminants on silicon wafer: RSF's evaluation and characterization of wet cleaning processes 1-gen-2000 Paolo Lazzeri; M.L. Polignano; L. Moro; D. Caputo; D. Lodi; Massimo Bersani
Advances in trace metal contaminant analysis by laser-SNMS 1-gen-2000 L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu
ToF-SIMS Study of Adhesive Residuals on Device Contact Pads after Wafer Taping and Backgrinding 1-gen-2001 Lazzeri, Paolo; G., Franco; C., Gerardi; A., Privitera; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Iacob, Erica
SIMS and ToF-SIMS Quantitative Depth profiles Comparison on Ultra Thin Oxynitrides: Ultimate Depth Resolution Analyses 1-gen-2001 Massimo Bersani; Damiano Giubertoni; Mario Barozzi; Lia Emanuela Vanzetti; Paolo Lazzeri; B. Crivelli; F. Zanderigo
Tof-Sims and XPS Characterization of urban aerosols for pollution studies 1-gen-2001 Lazzeri, Paolo; G., Clauser; Lui, Alberto; Iacob, Erica; G., Tonidandel; Anderle, Mariano
Fabrication by rf-sputtering processing of Er3+ / Yb3+ codoped silica-titania planar waveguides 1-gen-2002 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; R. R., Gonsalves; M., Brenci; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Casa P., Della
Enhanced spectroscopic properties at 1.5 um in Er3+ / Yb+3 activated silica-titania planar waveguides fabricated by rf-sputtering 1-gen-2002 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Mariano, Ferrari; Luca, Zampedri; Monteil, Andrè Lucien; Lazzeri, Paolo
Quantitative Evaluation of iron at the silicon surface after wet cleaning treatments 1-gen-2002 D., Caputo; P., Bacciaglia; C., Carpanese; M. L., Polignano; Lazzeri, Paolo; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; P., Pianetta; L., Moro
Caratterizzazione chimica di pollini tramite imaging ToF-SIMS e TXRF per indagini ambientali 1-gen-2002 Eva, Carli; Lazzeri, Paolo; Elena, Gottardini; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Coghe, Nicoletta
Arsenic shallow implant characterization by magnetic sector and time of flight SIMS instruments 1-gen-2002 Massimo Bersani; Paolo Lazzeri; Damiano Giubertoni; Mario Barozzi; Marchi E. Boscolo; Mariano Anderle
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments 1-gen-2002 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Materials Tranformation and kinetics in the formation of porous low-k polymer dielectrics for advanced interconnect technology 1-gen-2002 Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Jung Jin, Park; Z., Lin; G. Y., Ying; R. M., Briber; Gary Wayne, Rubloff
Caratterizzazione chimico-fisica e funzionale di pollini per indagini ambientali 1-gen-2002 P., Gottardini; Lazzeri, Paolo; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Eva, Carli
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