Sfoglia per Autore Vanzetti, Lia Emanuela
Improvement of mechanical properties of a-C:H by silicon addition
1997-01-01 C., De Martino; G., Fusco; G., Mina; A., Tagliaferro; Vanzetti, Lia Emanuela; Calliari, Lucia; M., Anderle
Characterisation of RTA Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses
1998-01-01 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Combined Transmission Electron Microscopy and Cathodoluminecence Studies of Degradation in Electron-Beam-Pumped Zn1-Xcdxse/Znse Blue-Green Lasers
1998-01-01 J. M., Bonard; J. D., Garniere; Vanzetti, Lia Emanuela; J. J., Paggel; L., Sorba; A., Franciosi; D., Hervé; E., Molva
Characterization of RTP Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses
1998-01-01 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
A Study of Physical properties of Vanadium Oxyde-based Gas Sensors
1998-01-01 R., Rella; P., Siciliano; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Cricenti; R., Generosi; C., Coluzza
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri
1998-01-01 M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Spectroscopic Characterization of Hard Carbon and Carbon-Based Films
1998-01-01 Bensaada Laidani, Nadhira; Calliari, Lucia; Micheli, Victor; Speranza, Giorgio; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Tof-SIMS Analyses on Contamination induced by Plasma Etching of Silicon Oxide
1999-01-01 F., Zanderigo; G., Queirolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Ferrari, Sara; A., Losavio
Which Colour?
1999-01-01 Bersani, Massimo; Canteri, Roberto; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Chemical structure of films grown by AIN laser ablation: an X-ray photoelectron spectroscopy study
1999-01-01 Bensaada Laidani, Nadhira; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Basillais; C., Boulmer Leborgne; J., Perriere
A Study of Physical Properties and Gas-surface Interactions of Vanadium Oxide Thin Films
1999-01-01 R., Rella; P., Siciliano; A., Cricenti; R., Generosi; M., Girasole; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; C., Coluzza
Characterization of rapid Thermal Processing Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses
1999-01-01 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione
2000-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Oxidation of PIII (Plasma Immersion Ion Implanted)-doped Silicon: study of Arsenic redistribution by SIMS and XPS
2000-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; V., Soncini
Characterisation of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces
2000-01-01 M. L., Polignano; M., Alessandri; D., Brazzeli; B., Crivelli; G., Ghidini; R., Zonca; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; C. G., Xing; G. E., Miner; N., Astici; S., Kupparo; D., Lopes
Ultra thin NO/N2O oxinitride dielectric for advanced flash memory application: single wafer and batch technology
2000-01-01 B., Crivelli; R., Zonca; M. L., Polignano; F., Cazzaniga; M., Alessandri; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; C. G., Xing; G. E., Miner; N., Astici; S., Kupparo; D., Lopes
The use of spin coated txrf reference samples for TOF-SIMS metal contaminants quantification on silicon wafers
2000-01-01 Lazzeri, Paolo; Lui, Alberto; L., Moro; Vanzetti, Lia Emanuela
Sub-keV Mass Spectrometry Analyses on Oxynitrided Ultrathin Films
2000-01-01 M., Sbetti; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; Canteri, Roberto; A., Anderle
Furnace and RTP Nitridation of Ultrathin Oxide Films by NO and N2O: SIMS and ToF-SIMS Characterisation
2000-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
XPS and SIMS Depth Profiling of Oxynitrides
2000-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Improvement of mechanical properties of a-C:H by silicon addition | 1-gen-1997 | C., De Martino; G., Fusco; G., Mina; A., Tagliaferro; Vanzetti, Lia Emanuela; Calliari, Lucia; M., Anderle | |
Characterisation of RTA Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
Combined Transmission Electron Microscopy and Cathodoluminecence Studies of Degradation in Electron-Beam-Pumped Zn1-Xcdxse/Znse Blue-Green Lasers | 1-gen-1998 | J. M., Bonard; J. D., Garniere; Vanzetti, Lia Emanuela; J. J., Paggel; L., Sorba; A., Franciosi; D., Hervé; E., Molva | |
Characterization of RTP Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
A Study of Physical properties of Vanadium Oxyde-based Gas Sensors | 1-gen-1998 | R., Rella; P., Siciliano; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Cricenti; R., Generosi; C., Coluzza | |
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri | 1-gen-1998 | M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano | |
Spectroscopic Characterization of Hard Carbon and Carbon-Based Films | 1-gen-1998 | Bensaada Laidani, Nadhira; Calliari, Lucia; Micheli, Victor; Speranza, Giorgio; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano | |
Tof-SIMS Analyses on Contamination induced by Plasma Etching of Silicon Oxide | 1-gen-1999 | F., Zanderigo; G., Queirolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Ferrari, Sara; A., Losavio | |
Which Colour? | 1-gen-1999 | Bersani, Massimo; Canteri, Roberto; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano | |
Chemical structure of films grown by AIN laser ablation: an X-ray photoelectron spectroscopy study | 1-gen-1999 | Bensaada Laidani, Nadhira; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Basillais; C., Boulmer Leborgne; J., Perriere | |
A Study of Physical Properties and Gas-surface Interactions of Vanadium Oxide Thin Films | 1-gen-1999 | R., Rella; P., Siciliano; A., Cricenti; R., Generosi; M., Girasole; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; C., Coluzza | |
Characterization of rapid Thermal Processing Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses | 1-gen-1999 | Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione | 1-gen-2000 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano | |
Oxidation of PIII (Plasma Immersion Ion Implanted)-doped Silicon: study of Arsenic redistribution by SIMS and XPS | 1-gen-2000 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; V., Soncini | |
Characterisation of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces | 1-gen-2000 | M. L., Polignano; M., Alessandri; D., Brazzeli; B., Crivelli; G., Ghidini; R., Zonca; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; C. G., Xing; G. E., Miner; N., Astici; S., Kupparo; D., Lopes | |
Ultra thin NO/N2O oxinitride dielectric for advanced flash memory application: single wafer and batch technology | 1-gen-2000 | B., Crivelli; R., Zonca; M. L., Polignano; F., Cazzaniga; M., Alessandri; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; C. G., Xing; G. E., Miner; N., Astici; S., Kupparo; D., Lopes | |
The use of spin coated txrf reference samples for TOF-SIMS metal contaminants quantification on silicon wafers | 1-gen-2000 | Lazzeri, Paolo; Lui, Alberto; L., Moro; Vanzetti, Lia Emanuela | |
Sub-keV Mass Spectrometry Analyses on Oxynitrided Ultrathin Films | 1-gen-2000 | M., Sbetti; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; Canteri, Roberto; A., Anderle | |
Furnace and RTP Nitridation of Ultrathin Oxide Films by NO and N2O: SIMS and ToF-SIMS Characterisation | 1-gen-2000 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano | |
XPS and SIMS Depth Profiling of Oxynitrides | 1-gen-2000 | Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano |
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