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Improvement of mechanical properties of a-C:H by silicon addition 1-gen-1997 C., De Martino; G., Fusco; G., Mina; A., Tagliaferro; Vanzetti, Lia Emanuela; Calliari, Lucia; M., Anderle
Characterisation of RTA Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses 1-gen-1998 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Characterization of RTP Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses 1-gen-1998 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Combined Transmission Electron Microscopy and Cathodoluminecence Studies of Degradation in Electron-Beam-Pumped Zn1-Xcdxse/Znse Blue-Green Lasers 1-gen-1998 J. M., Bonard; J. D., Garniere; Vanzetti, Lia Emanuela; J. J., Paggel; L., Sorba; A., Franciosi; D., Hervé; E., Molva
A Study of Physical properties of Vanadium Oxyde-based Gas Sensors 1-gen-1998 R., Rella; P., Siciliano; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Cricenti; R., Generosi; C., Coluzza
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri 1-gen-1998 M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Spectroscopic Characterization of Hard Carbon and Carbon-Based Films 1-gen-1998 Bensaada Laidani, Nadhira; Calliari, Lucia; Micheli, Victor; Speranza, Giorgio; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Chemical structure of films grown by AIN laser ablation: an X-ray photoelectron spectroscopy study 1-gen-1999 Bensaada Laidani, Nadhira; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Basillais; C., Boulmer Leborgne; J., Perriere
A Study of Physical Properties and Gas-surface Interactions of Vanadium Oxide Thin Films 1-gen-1999 R., Rella; P., Siciliano; A., Cricenti; R., Generosi; M., Girasole; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; C., Coluzza
Tof-SIMS Analyses on Contamination induced by Plasma Etching of Silicon Oxide 1-gen-1999 F., Zanderigo; G., Queirolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Ferrari, Sara; A., Losavio
Which Colour? 1-gen-1999 Bersani, Massimo; Canteri, Roberto; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Characterization of rapid Thermal Processing Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses 1-gen-1999 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Oxidation of PIII (Plasma Immersion Ion Implanted)-doped Silicon: study of Arsenic redistribution by SIMS and XPS 1-gen-2000 Massimo Bersani; M. Sbetti; Lia Emanuela Vanzetti; V. Soncini
Ultra thin NO/N2O oxinitride dielectric for advanced flash memory application: single wafer and batch technology 1-gen-2000 B. Crivelli; R. Zonca; M.L. Polignano; F. Cazzaniga; M. Alessandri; Massimo Bersani; Lia Emanuela Vanzetti; M. Sbetti; C.G. Xing; G.E. Miner; N. Astici; S. Kupparo; D. Lopes
Characterisation of nitrided silicon-silicon dioxide interfaces 1-gen-2000 M.L. Polignano; M. Alessandri; D. Brazzeli; B. Crivelli; G. Ghidini; R. Zonca; Massimo Bersani; Lia Emanuela Vanzetti; M. Sbetti; C.G. Xing; G.E. Miner; N. Astici; S. Kupparo; D. Lopes
The use of spin coated txrf reference samples for TOF-SIMS metal contaminants quantification on silicon wafers 1-gen-2000 Paolo Lazzeri; Alberto Lui; L. Moro; Lia Emanuela Vanzetti
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Sub-keV Mass Spectrometry Analyses on Oxynitrided Ultrathin Films 1-gen-2000 M., Sbetti; Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; Canteri, Roberto; A., Anderle
Furnace and RTP Nitridation of Ultrathin Oxide Films by NO and N2O: SIMS and ToF-SIMS Characterisation 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
XPS and SIMS Depth Profiling of Oxynitrides 1-gen-2000 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano
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