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Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Deph profiling and quantification of chlorine and nitrogen in oxynitrides obtained by HTO process 1-gen-2000 Massimo Bersani; M. Sbetti; Damiano Giubertoni; Mario Barozzi; Erica Iacob
Depth profiling and quantification of chlorine and nitrogen in oxynitrides obtained by HTO process 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbettti; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica
Multigas detection by Diode Laser-Photoacoustic Resolution Spectroscopy 1-gen-2000 M., Scotoni; D., Bassi; Boschetti, Andrea; Iannotta, Salvatore; L., Ricci; Iacob, Erica
Ultrathin Multilayer Dielectrics Analyses by XPS wet-etching and SIMS profile 1-gen-2001 Iacob, Erica; M., Sbetti; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; B., Crivelli; R., Zonca; F., Zanderigo; M. E., Vitali
D-Sims and TOF-SIMS quantitative depth profiles on ultra thin oxinitrides 1-gen-2001 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; P., Lazzeri; B., Crivelli; F., Zanderigo
MCs+ and MCs2+ Molecular Ions Emission from Transition Metal Silicides 1-gen-2001 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
ToF-SIMS Study of Adhesive Residuals on Device Contact Pads after Wafer Taping and Backgrinding 1-gen-2001 Lazzeri, Paolo; G., Franco; C., Gerardi; A., Privitera; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Iacob, Erica
XPS and SIMS Depth Profiling of Chlorine in Oxynitrides Obtained by HTO Process 1-gen-2001 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; R., Zonca; C., Carpanese; F., Zanderigo
Tof-Sims and XPS Characterization of urban aerosols for pollution studies 1-gen-2001 Lazzeri, Paolo; G., Clauser; Lui, Alberto; Iacob, Erica; G., Tonidandel; Anderle, Mariano
XPS and SIMS Depth Profiling of Chlorine in High-Temperature Oxynitrides 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; R., Zonca; B., Crivelli; C., Carpanese; F., Zanderigo
Sample topography developed by sputtering in Cameca instruments 1-gen-2002 Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Alberto, Lui; Vanzetti, Lia Emanuela; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Anderle, Mariano
Resonant photoacoustic simultaneous detection of methane and ethylene by means of a 1.63 um diode laser 1-gen-2002 Boschetti, Andrea; Davide, Bassi; Iacob, Erica; Iannotta, Salvatore; Leo, Ricci; Mario, Scotoni
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Nitrided Silicon-Silicon Oxide Interface 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
Nitrided Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical And Physico-Chemical Characterization By Complementary Surface Analysis Techniques 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
Sample topography developed by sputtering in a Cameca instruments: an AFM and SEM study 1-gen-2002 Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Lui, Alberto; Vanzetti, Lia Emanuela; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Anderle, Mariano
ToF-SIMS and XPS charcterisation of urban aerosols for pollution studies 1-gen-2003 Lazzeri, Paolo; G., Franco; M., Garozzo; C., Gerardi; Iacob, Erica; Faro A., Lo; A., Privitera; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses 1-gen-2003 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Bertoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses 1-gen-2003 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
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