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Angle selective backscattered electron contrast in the low-voltage scanning electron microscope: Simulation and experiment for polymers
2016-01-01 Wan, Q; Masters, R. C; Lidzey, D; Abrams, K. J; Dapor, Maurizio; Plenderleith, R. A; Rimmer, S; Claeyssens, F; Rodenburg, C.
Energy selective scanning electron microscopy to reduce the effect of contamination layers on scanning electron microscope dopant mapping
2010-01-01 C., Rodenburg; M. A. E., Jepson; E. G. T., Bosch; Dapor, Maurizio
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Angle selective backscattered electron contrast in the low-voltage scanning electron microscope: Simulation and experiment for polymers | 1-gen-2016 | Wan, Q; Masters, R. C; Lidzey, D; Abrams, K. J; Dapor, Maurizio; Plenderleith, R. A; Rimmer, S; Claeyssens, F; Rodenburg, C. | |
Energy selective scanning electron microscopy to reduce the effect of contamination layers on scanning electron microscope dopant mapping | 1-gen-2010 | C., Rodenburg; M. A. E., Jepson; E. G. T., Bosch; Dapor, Maurizio |
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